芯片外觀缺陷主檢測的主要檢測內容：封裝體缺陷；印刷缺陷；管腳缺陷。
數字鎖相、頻率更寬、穩定性好、響應時間≤10ms
非接觸式、數字感應、體小量輕、操作便捷、穩定性好
光學篩選機，是專業視覺檢測設備。采用機器視覺原理，通過 CCD 圖像傳感器與圖像處理系統自動辨別產品外觀缺陷，分選出合格與不合格件并統計分析數據，具備自動上料裝置，多視角檢測，360°全檢。 可檢多種物件，涵蓋尺寸、鍍層、壓傷等眾多檢測項目。 適用規格廣泛，檢測速度快、精度高。
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